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深圳市众裕康科技有限公司

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首页 > 供应产品 > LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
品牌: 德国Karl Deutsch
单价: 面议
最小起订量:
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-12-06 09:08
 
详细信息

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042详细介绍:

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042多功能仪器具有精确的测量技术,操作简便。还包括通过解锁代码进行快速现场升级的选项。
系统可定制的涂层测量

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042用于测量磁性基材上的非磁性涂层的厚度(根据DIN EN ISO 2178)并通过涡流法测量非磁性导电基材上的非导电涂层的厚度(根据DIN EN ISO 2360)。

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042应用
可靠的技术与舒适的工具相结合,例如将厚度值显示为模拟指针,类似于Windows的文件管理以及10种不同语言的免费选择,可以满足有抱负的用户的所有愿望。

LEPTOSKOP 2042是一款经济型仪器,电池使用寿命超过100小时。

该仪器会记录操作时间和测量次数,因此这些重要参数本身可用于正确跟踪测试设备。

供货范围内包括彩色橡胶保护套,并具有防滑保护功能,可在工业环境中保护仪器。

LEPTOSKOP 2042

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042特点:
大型图形显示屏48毫米x 24毫米,带照明
校准选项:
出厂前已校准,可立即进行测量
在未知涂层上校准*
零位校准*
在未涂覆的基材上进行一次和多箔校准*
校准涂层材料*
校准数据可以单独存储在单独的校准文件中,也可以从那里重新加载。

可选择的显示模式,以最佳地适应测量任务*
输入和监控限额*
在Windows©下可以轻松管理文件来存储读数*
可与PC软件 EasyExport和 iCom一起使用
统计*
统计评估多达999个读数
最小,最大,平均值,读数数量,标准偏差,限值监控
局部厚度和平均涂层厚度(DIN EN ISO 2808)
在线统计,所有统计值一目了然

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042选型:
LEPTOSKOP 2042具有三种配置级别:
基本 -质量可靠的基本功能
统计 -附加统计评估
统计和数据存储 -统计评估和数据存储

如果需要,可以随时将量规升级到高级和/或专业级别。升级过程通过代码执行,可以在现场输入代码以解锁模块“统计”和/或“统计和数据存储”。如果要为新的测量需求添加功能,则无需将仪表返回KARL DEUTSCH进行升级或购买新仪表。



 LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042技术数据

串行接口 用于将数据传输到RS232或USB
电源 通过电池,USB或电源装置
测量范围 0-20000 µm(取决于探头)
测量率 每秒高达2个读数
存储 最高 9999个读数(最多140个文件)
测量不确定度
(校准后)
涂层厚度<100 µm:读数的1%+/- 1 µm
涂层厚度> 100 µm:读数的1.0.3%+/- 1 µm
涂层厚度> 1000 µm:读数的3..5% /-10 µm
涂层厚度> 10000 µm:读数的5%+ /- 100 µm

 LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042附件

  • 测试块和校准箔

  • 探头定位装置 -适用于所有微型探头

  • 定位辅助 -适用于所有微型探针

  • PC软件iCom-用于数据传输和整个目录结构的便捷管理

  • PC软件EasyExport-用于将单个读数或完整文件轻松导出到Windows©程序


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